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UL-1434
以下内容是对UL-1434中规定热敏电阻测试条件部分的翻译，希望对大家热敏电阻UL认证的准备工作有所帮助。
21.1表21.1中指明的样品必须要经过22-29条规定所述的所有测试，新样品除过载和耐力测试以外要经过所有的测试。
21.2:除非另有说明，测试的温度必须在±2C（±3.6F）范围。
21.3 对每一个温度点和额定电功率都必须进行测试，除非某一个温度和额定电功率能够代表其他的。
21.4 除非另有说明，对浪涌电流的测试必须是在额定频率和表21.2所指定的电压下进行。当输入电压在额定电压范围内变化，如果热敏电阻的作用发生改变，在额定电压范围内的最高值和最低值下都必须进行测试。对于只有单一额定电压的热敏电阻，如果在表21.2的测试结果下热敏电阻的作用发生变化，则必须对该热敏电阻在额定电压下进行测试。
表21.2
对于只有单一额定电压即不再以上任何指定的电压范围内，该热敏电阻必须要测试该额定电压。
如果一个热敏电阻有一系列额定电压值并且有一个或者多个电压值在上述电压范围内，该热敏电阻将会在上述对应的电压范围内或者最高的电压下进行测试。
如果热敏电阻有一系列额定电压值且没有一个在上述电压范围内的，该热敏电阻必须在指定的最高电压值下进行测试。
如果一个热敏电阻有2个额定电压，对该热敏电阻的测试必须在这2个电压下都进行除非对一个额定电压的测试能代表对另外一个额定电压的测试。
21.6所谓稳定的温度是指，连续三次成功测量读数/每隔10%/过去的持续时间/测试必须表明温度变化最大不超过±1.0C（±1.8F），在任何情况下，时间间隔必须少于5分钟。
22.校准测试
22.1概述
22.1.1在可接受条件下， 每一个热敏电阻的样品都必须接受22.2描述的R/T测试和 2 2.3、22.4条描述的可接受的校准测试。所有测试结果必须在制造商所描述的 极限范围内。
22.1.2以下测试是对之前23、24,26-28校准测试的重复进行，测试结果必须在表22.1或者22.2所指明的其中一个等级内，或者在规定的成品标准限制范围内，并且：
A)一个浪涌电流抑制器与其对应的可接受的R/T曲线的不同点不能超过表22.1所指明的。并且一个绝缘的热敏电阻器必须符合29条的介电耐压测试。
B）对于热敏传感器，在测试后，在3个温度点的阻值是确定的。其中一个温度点事25C（77F）。另外两个温度点则跨越了热敏电阻的操作温度范围。从可接受的R/T曲线来看，这些阻值相对应的温度点是已经确定的。对每一个阻值，从可接受条件来看温度的的偏离是确定的。温度偏离的百分比与可接受的R/T曲线的不同之处不得超过表22.1所示，并且，一个绝缘的热敏电阻必须符合29条的介点耐电压测试。
例外，当一个热敏电阻被鉴定为不绝缘，可以不必做介电耐电压测试，详见29.4条。
22.2 NTC热敏电阻R/T曲线的测量
22.2.1 样品将被放在一个充满空气循环的烤炉里面或者液体介质里面，如硅油或flourinert，
温度保持在测试规定温度的±1C（1.8F）范围内。测试将在各种温度下进行，从室内环境
温度开始，到不超过22.3.1规定的表面温度。阻值必须按照要求使用欧姆计在许多规定的
温度点测得，以便形成一个完整的R/T曲线。
22.3表面温度测试（仅适用于抑制浪涌电流热敏电阻器）
22.3.1抑制浪涌电流的NTC表面温度是在与负载等量的额定电容量条件下，当NTC在最
大电压和最大电流下工作的时候使用热电偶或者其他等价的装置测得的。该温度必须在制造
商声明的范围呢，见表3.2
22.4NTC 热敏电阻的阻值和B值测试
22.4.1热敏电阻的B值（B值的等级/额定）必须在制造商声明的限制范围。NTC热敏电
阻的阻值R25是在25C（77F）下测得，其他关于R1和R2的测试是在制造商声明的温
度T1和T2下进行的值是按照下面的公式计算出来的。
23老化测试
23.1如下23.2条规定的条件是对符合22.1.2的热敏电阻而言的 23.2 3个未通电的热敏电阻样品必须要适用在空气循环的烤箱内高于表23.1所规定的温
度30C条件下1000小时。无论如何，温度不得低于70C（158F）.烤箱的温度必须保持
在测试规定的温度±5C（±9F）范围内。对样品进行测试的烤箱的温度是要被监控的。
24.热、冷、湿循环操作。
24.1以下循环测试的热敏电阻样品必须符合22.1.2的要求。
24.2 3个未通电的热敏电阻样品必须按照顺序接受（a）或（b）规定的完整的循环。
A）室内温度应用：
1）24小时处于符合22.3条表面温度测试的温度下。无论如何，该温度不能低于70C
（158F）。烤箱温度必须保持在规定的测试温度的±5C（±9F）范围内。对样品进行测试
的烤箱的温度是要被监控的。
2）168小时处于在40C（104F）时相对湿度为90-95%的不凝固空气中；并且
3）8小时处于0C（32F）下，或者是制造商说明的更低的环境温度。
B）室外温度应用
1）在25C（77F）条件下，完全浸没在水中24小时。
2）8小时处在-35C(-31F)下，或者是制造商声明的更低的环境温度。
3）24小时处于符合22.3条表面温度测试的温度下。在任何情况下，该温度必须不低于
70C（158F）。烤箱的温度必须保持在规定的测试温度的±5C（±9F）范围内。对样品进
行测试的烤箱的温度是要被监控的。
4）168小时处于在40C（104F）时相对湿度为90-95%的不凝固空气中。
25 过载测试
25.1接受以下25.2或25.3和26.1规定的测试的热敏电阻样品必须符合22.1.2的要求。
25.2 对于用于抑制浪涌电流的热敏电阻，当连接到最大电压和120%最大电流时，3颗热
敏样品必须要被安装并运行50个周期。每一个周期样品都是从热稳定25C（77F）开始的。
25.3对于热敏传感器，3个样品将被安装并开始运行50个样品从热稳定25C±5C
（77F±9F）增加到120%于热敏电阻的最大传感温度的周期。
26．耐力实验
26.1经过25条过载测试的3颗样品，将在a）或b）的条件下，运行表26.1规定的周期
数。每一个周期都是R/T曲线的一个非常重要的部分。
a）抑制浪涌电流—抑制浪涌电流热敏电阻是在与负载等量的额定电容量、最大电压和最大电流条件下测试的，见表26.1
b）传感—热敏传感器将在25C±5C(77±9F)和最大工作温度之间进行循环。
27.冷操作循环测试
27.1以下接受27.2规定的循环的热敏电阻必须符合22.1.2的规定。
27.2在环境温度为0C（32F）或者制造商声明的更低的环境温度下，热敏电阻的3颗样品将要在最大电压和最大电流下循环1000次。每次循环都将包括R/T曲线中从起始温度到稳态条件的部分。在每次循环前，热敏电阻的温度在起始温度±2C( ±3.6F)时趋于稳定。
28．冷热循环测试
28.1 接受以下28.2规定测试的热敏电阻必须符合22.1.2的要求。
28.2 热敏传感器的3个样品必须接受1000个周期的冷热循环测试。每个周期都是从0C（32F）或者是制造商声明的更低的环境温度开始，包括R/T曲线从起始温度到最大额定温度部分。每次循环前热敏电阻的温度都将在起始温度±2C(3.6F) 时趋于稳定。
29. 介电耐电压测试（仅对绝缘热敏电阻而言）
29.1绝缘热敏电阻将要用于Line-voltage （直流？一级？）电路或者一个绝缘-限制-能量 的次级电路，并且在line-voltage部分和接地、暴露的金属部分或者附件之间交替应用在1000V电压加2位于最大额定电压下，必须保持1分钟且没有任何故障。
29.2用于低压电路的热敏电阻，在低压部分和接地、暴露的金属部分或者附件之间交替应用于500V下，必须保持1分钟且没有任何故障。
29.3对于热敏传感器（尤其是用于低压电路的）的额定绝缘电压，测试将在终端和接地、暴露的金属部分或部件之间的1000V加2倍的额定绝缘电压下进行。
29.4 热敏电阻用Barrier(障碍）或者line(衬垫）使暴露的死亡金属部分绝缘，必须在带电和暴露的死亡金属部分之间符合29.1、29.2、29.3条的规定。
29.5 测试设备和方法按20.5条的规定执行。
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